Это не официальный сайт wikipedia.org 01.01.2023

Электронно-дырочные лужи в графене — Википедия

Электронно-дырочные лужи в графене

Электронно-дырочные лужи (англ. electron-hole puddles) в графене формируется вблизи точки электронейтральности. Они представляют собой локальное изменение концентрации отрицательно заряженных носителей (электронов) и положительно заряженных (дырок) квазичастиц и возникают из-за неоднородного распределения заряженных примесей в подложке, а также локального изменения плотности состояний, например, из-за дефектов или деформации решётки и др. причин. В целом заряд графена в точке электронейтральности равен нулю, то есть количество электронов и дырок совпадает, однако их концентрации зависят от координат. На границе между электронными и дырочными областями формируются p-n переходы. Так как запрещённая зона графена равна нулю, ток через такой переход не равен нулю, и материал остаётся проводящим при любой температуре[1].

Влияние подложкиПравить

Качество подложки и количество примесей в ней сильно влияют на уровень беспорядка в графене: на концентрацию носителей в электронно-дырочных лужах и их размеры. Первые образцы графена были сделаны на подложке окисленного кремния, не отличающегося чистотой, благодаря чему флуктуации концентрации достигали 1012 см-2. Размеры луж, локальное положение дираковской точки были измерены с помощью одноэлектронного транзистора чувствительного к локальному заряду[2].

В более поздних реализациях графеновые образцы переносились на чистые гладкие подложки из гексагонального нитрида бора, что позволило частично избежать флуктуирующего потенциала и глубина луж существенно уменьшилась. Это привело к получению существенно более высоких подвижностей носителей.

ПримечанияПравить

  1. Castro Neto et. al., 2009.
  2. Martin J., Akerman N., Ulbricht G., Lohmann T., Smet J. H., von Klitzing K., Yacoby A. Observation of electron–hole puddles in graphene using a scanning single-electron transistor (англ.) // Nature Physics. — 2008. — Vol. 4. — P. 144—148. — doi:10.1038/nphys781. — arXiv:0705.2180.

ЛитератураПравить