![]()
Метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны
Метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны (ДРСДВ) (англ. Wavelength dispersive X-ray spectroscopy, WDXRF или WDS) — аналитическая методика элементного анализа твёрдого вещества, базирующаяся на анализе максимумов по их расположению (длина волны эмиссии) и интенсивности её рентгеновского спектра, вариант рентгеноспектрального анализа. С помощью ДРСДВ-методики можно количественно и качественно определить элементы в исследуемом материале начиная с атомного номера 4 — (Бериллий). Нижняя граница определения наличия элемента при этом составляет 0.01 весового процента, что в абсолютных числах составляет 10−14 до 10−15 грамма.
Содержание
![]()
![]()
Принцип![]()
Править
С помощью действия пучка электронов определённой энергии на исследуемый образец возбуждают его атомы, которые при этом выпускают характерное каждому химическому элементу рентгеновское излучение. Эмитированное таким образом излучение раскладывают с помощью дифракции на природных или искусственных кристаллах на разные участки в зависимости от длины волны. При этом спектрометр настроен лишь на одну длину волны для её анализа и лишь для одного элемента. Для анализа других элементов необходимо изменять положение спектрометра для детектирования другой длины волны следующего элемента, и часто также необходимо заменять кристалл для лучшей дифракции на этом определённом участке спектра.
Исследуя таким образом определённые участки энергетического спектра характеристического излучения при разных длинах волн, можно делать выводы про качественный и количественный состав образца.
Для количественного определения элементов в исследуемых объектах для сравнения и обсчёта используют подобные по природе исследуемым стандартные образцы с известным содержанием элементов.
![]()
![]()
Сравнение ДРСДВ с ЭДРС![]()
Править
В противоположность методу энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (ЭДРС) метод дисперсионной рентгеновской спектроскопии по длине волны имеет на порядок более высокую чувствительность и спектральную разделяющую способность. Преимущество ЭДРС проявляются в промере образца на всём рентгеновском спектре, следовательно и одновременного анализа всех элементов, которые имеются в объекте, а также в более низкой чувствительности к топографии образца.