Дефект Стоуна — Уэйлса

Дефект Стоуна — Уэйлса — кристаллографический дефект в углеродных нанотрубках, графене и других кристаллах с гексагональной кристаллической решёткой. Дефект, как полагают, имеет важное значение для механических свойств нанотрубок. Дефект назван в честь Энтони Стоуна и Дэвида Уэйлса из Кембриджского университета, которые описали его в статье 1986 года^[2], посвящённой изомеризации фуллеренов. Тем не менее, довольно похожий дефект был описан гораздо раньше в статье о графите^[3]. Дефект считается ответственным за наноразмерную пластическую деформацию и способность к деформациям в углеродных нанотрубках.

Дефект Стоуна — Уэйлса в силицене, гексогональный двуслойный оксид кремния (HBS) и графене: модель и изображение просвечивающей электронной микроскопии.^[1]

Дефект Стоуна — Уэйлса представляет собой соединённые углеродные кольца с пятью и семью атомами, возникающий благодаря повороту на 90° соседних атомов углерода относительно их центра. Дефект Стоуна — Уэйлса также используется для описания структурных изменений SP² связей наносистем углерода. Например, было предложено, что процесс слияния фуллеренов и углеродных нанотрубок может произойти через последовательность таких перестановок.

СсылкиПравить

↑ Björkman T., Kurasch S., Lehtinen O., Kotakoski J., Yazyev O. V., Srivastava A., Skakalova V., Smet J. H., Kaiser U., Krasheninnikov A. V. Defects in bilayer silica and graphene: common trends in diverse hexagonal two-dimensional systems (англ.) // Scientific Reports (англ.) (рус. : journal. — 2013. — Vol. 3. — P. 3482. — doi:10.1038/srep03482. — Bibcode: 2013NatSR...3E3482B. — PMID 24336488. — PMC 3863822.
↑ Stone, A. J.; Wales, D. J. Theoretical studies of icosahedral C₆₀ and some related structures (англ.) // Chemical Physics Letters (англ.) (рус. : journal. — 1986. — Vol. 128, no. 5—6. — P. 501—503. — doi:10.1016/0009-2614(86)80661-3.
↑ Thrower, P.A. The study of defects in graphite by transmission electron microscopy (англ.) // Chemistry and Physics of Carbon : journal. — 1969. — Vol. 5. — P. 217—320.

[r1-1] Björkman T., Kurasch S., Lehtinen O., Kotakoski J., Yazyev O. V., Srivastava A., Skakalova V., Smet J. H., Kaiser U., Krasheninnikov A. V. Defects in bilayer silica and graphene: common trends in diverse hexagonal two-dimensional systems (англ.) // Scientific Reports (англ.) (рус. : journal. — 2013. — Vol. 3. — P. 3482. — doi:10.1038/srep03482. — Bibcode: 2013NatSR...3E3482B. — PMID 24336488. — PMC 3863822.

[2] Stone, A. J.; Wales, D. J. Theoretical studies of icosahedral C₆₀ and some related structures (англ.) // Chemical Physics Letters (англ.) (рус. : journal. — 1986. — Vol. 128, no. 5—6. — P. 501—503. — doi:10.1016/0009-2614(86)80661-3.

[3] Thrower, P.A. The study of defects in graphite by transmission electron microscopy (англ.) // Chemistry and Physics of Carbon : journal. — 1969. — Vol. 5. — P. 217—320.

[2]

[3]

[1]